HTXB 多功能智能环境老化设备

革命性的创新理念，重新定义环境老化试验设备

HTXB 系列产品是一款多功能的功率半导体器件环境老化试验设备。主要用于功率半导体器件的环境老化试验，比如 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的 HTGB/HTRB 试验。

HTXB 系列产品采用全新的革命性创新设计理念，重新定义环境老化试验设备。允许在一台设备上完成 HTGB/HTRB 两种不同的试验，极大地提高了设备综合利用率，并减少了采购成本,解决了实验室空间紧张的问题，降低并优化了老化试验的人力、电力支出综合成本。电源电压范围最大为 0~6500V，可以根据客户要求选择不同电压等级电源，满足了不同产品同时试验的需求。试验温度范围最大可达常温~260℃，满足了宽禁带半导体器件老化试验对于更高温度测试需求。最多支持 1280 个分立器件或72只半桥模块（上下桥切换），并支持不同封装的分立器件和模块组合试验，最大化地利用资源满足研发和大批量生产要求。

HTXB 系列产品还支持用户通过 ALITA SMART LAB 等软件在移动端/PC 端进行远程监测和控制，用户可以随时随地的控制或者了解试验进程。设备发生异常状态会自动报警，极大地缓解了值班人员工作压力。